그래핀 표면 결함 수 초 만에 찾는 기술 개발 / YTN 사이언스
차세대 신소재 그래핀 표면에 생긴 결함을 수 초 만에 찾아내는 기술이 개발됐습니다 중앙대 연구팀은 500만 화소 카메라로 그래핀에 반사된 빛을 분석해 표면의 찢어짐이나 주름 여부, 불순물 등을 빠르게 찾는 기법을 개발했다고 밝혔습니다 이 기술을 이용하면 쌀알 면적의 그래핀 표면을 검사하는 데 4초밖에 걸리지 않는다고 연구팀은 설명했습니다 최소라 [csr73@ytn co kr] [YTN 사이언스 기사원문]
